電子顕微鏡観察（形態観察） 受託サービス比較
電子顕微鏡で試料の形や内部構造、元素の分布を見てもらう受託です。
このサービスについて詳しく見る
電子顕微鏡観察（TEM・SEM・STEM・FIB-SEM）受託
タンパク質の立体構造を決めるクライオ電子顕微鏡とは目的が違います。まず方式で、見ているものが根本的に違います。TEMは電子を試料に通して内部の微細構造を見るので薄い切片が要り、SEMは表面に電子を当てて表面の形を見ます。STEMは電子線を細く絞って走査するもので、原子スケールまで見える機種があります。FIB-SEMはイオンビームで削りながらSEMで撮り、重ねて3次元に組み直します。2つめは見るだけか成分まで調べるかで、EDXは元素が何かを、EELSは元素に加えて化学状態まで分かります。電子回折やEBSDは結晶の構造や方位を調べ、3Dトモグラフィは傾けながら撮って立体に組み直します。3つめは試料作製で、電子顕微鏡はここの手間がいちばん大きく、固定・脱水・包埋・薄切・染色・蒸着・FIB加工・イオンミリングのどこまでを頼めるかで手元の負担がまったく変わります。4つめは用途で、生物試料（細胞・組織・菌・ウイルス・含水物）と材料試料（金属・高分子・電池・半導体）では前処理も装置の使い方も別になります。
比較条件を設定 条件を指定して、目的に合うサービスを探せます。 条件を閉じる 条件を開く
各社の公開情報から計算した参考価格です。正式な金額は各社の見積で確認してください。
税区分は各社の表記によります。
「起点」は基本料金に含まれる最初の工程です
（起点が違うと、同じ金額でも含まれる作業が違います）。
料金を公開していない会社も「要見積」として並べています。
表の見出しの文字を押すと、その列で並べ替えられます
（もう一度押すと逆の順）。
記載なしは、いつも最後に並びます。
登録企業は、受託解析Quick 上で見積に直接回答します（未登録の会社にも依頼できます）。
表は左右にスクロールして詳細を比較できます。
| 見積 | 会社・サービス | ランキング ▲ | 参考合計（1試料） | 基本料金（単価） | 製品の特徴 | 最低試料数 | 起点 | 方式 | あわせてできる分析 | 装置 | 頼める試料作製 | 納期 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
東ソー分析センター
|
— | 要見積（基本料金が非公開） | 要見積 |
1
JEM-F200のCold-FE電子銃を使う
2
TEM分解能0.23 nm・STEM 0.16 nm
3
大気に触れさせない取り扱いもできる
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | TEM（透過・内部構造）・STEM（走査透過・原子スケール） | EDX（元素分析）・電子回折 | JEM-F200（日本電子）。Cold-FE電子銃、加速電圧80 kV・200 kV | 記載なし | 記載なし | |
|
材料科学技術振興財団（MST）
|
— | 要見積（基本料金が非公開） | 要見積 |
1
空間分解能0.07 nmから
2
HAADF-STEMやウィークビーム法に対応
3
試料は3 mmφ以下
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | TEM（透過・内部構造）・STEM（走査透過・原子スケール） | EDX（元素分析）・EELS（元素＋化学状態）・電子回折 | 加速電圧60〜300 kV（機種により異なる） | FIB加工・イオンミリング | 記載なし | |
|
JFEテクノリサーチ
|
— | 要見積（基本料金が非公開） | 要見積 |
1
削りながら撮った数百枚から立体を作る
2
表面積などの数値も算出できる
3
ボイドや空隙の観察に使われる
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | FIB-SEM（削りながら撮って3次元に）・SEM（走査・表面） | 3次元の再構築 | デュアルビーム走査電子顕微鏡（FIB搭載SEM） | FIB加工 | 記載なし | |
|
JFEテクノリサーチ
|
— | 要見積（基本料金が非公開） | 要見積 |
1
EDX・EELS・EBSDまで組み合わせる
2
ULV-SEMは最小20 Vで観察できる
3
低温での観察や非暴露条件にも対応
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | TEM（透過・内部構造）・STEM（走査透過・原子スケール）・SEM（走査・表面） | EDX（元素分析）・EELS（元素＋化学状態）・EBSD（結晶方位） | TEM、Cs補正STEM、SEM、ULV-SEM（極低加速電圧走査電子顕微鏡） | FIB加工 | 記載なし | |
|
フィルジェン
|
— | ¥30,000 税抜 | ¥30,000/試料 |
1
透過電子顕微鏡H-7600で内部を撮影
2
固定・脱水から薄切・二重染色まで頼める
3
制限視野電子線回折にも対応
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | TEM（透過・内部構造） | 電子回折 | 透過電子顕微鏡 H-7600。試料作製はウルトラミクロトーム、真空電子染色装置VSC4R1H、オスミウム・プラズマコーターOPC80LTM、臨界点乾燥装置 | 固定・脱水・樹脂包埋・超薄切片（ウルトラミクロトーム）・電子染色・ネガティブ染色・凍結 | 記載なし | |
|
フィルジェン
|
— | ¥22,000 税抜 | ¥22,000/試料 |
1
電解放出型のJSM-6320Fなどで撮影
2
線分析・面分析・定量まで頼める
3
蒸着やコーティング・臨界点乾燥もできる
|
記載なし | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） | SEM（走査・表面） | EDX（元素分析） | 電解放出型走査電子顕微鏡 FE-SEM JSM-6320F、走査電子顕微鏡 SEM。試料作製はオスミウム・プラズマコーターOPC80LTM、臨界点乾燥装置 | 蒸着・コーティング・臨界点乾燥 | 記載なし |
ランキングの決め方：受注数・見積依頼数・価格（参考合計）・見積返信の速さ・ユーザー評価から計算しています。 受注数・見積依頼数・返信の速さ・評価は、受託解析Quick 上での直近12か月の実績です（実績がまだない項目は0点）。 広告（PR）の出稿や手数料の額では変わりません。 くわしく
