東ソー分析センター： FE-TEM（JEM-F200）による形態観察・組成分析
東ソー分析センターが提供するサービスです。
ご注文の前に「掲載情報」「料金詳細」「発注条件」などを確認のうえ、
内容に応じて見積依頼をしてください。
このサービスについて
日本電子のJEM-F200（Cold-FE電子銃）で、形態観察、構造解析、組成分析、結晶構造の解析を行う。TEM分解能0.23 nm、STEM分解能0.16 nm（いずれも200 kV）、加速電圧は80 kVと200 kV。電子回折図形とEDSの元素マッピングに対応し、大気に触れさせない取り扱いもできる。対象は無機材料、易酸化材料、金属、ガラス、セラミックス、触媒、ジルコニア、ゼオライト、GaN、ポリマー、電池材料。
参考合計 （1試料）
公開されている料金をもとに計算した参考金額です。
登録されている料金（すべて）
基本料金・オプション・適用条件などの一覧です。
| 区分 | 内容 | 金額 | 撮影する試料数の条件 | 税 | 種類・期間 | 出典 | メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 基本料金 （必須） | FE-TEM分析（1試料） | 要見積 | — | 記載なし | 通常 | 電界放出型透過電子顕微鏡（FE-TEM）（東ソー分析センター） （公式） | 公開価格なし |
仕様
掲載されている解析条件・サービス仕様です。
電子顕微鏡で試料の形や内部構造、元素の分布を見てもらう受託です。タンパク質の立体構造を決めるクライオ電子顕微鏡とは目的が違います。まず方式で、見ているものが根本的に違います。TEMは電子を試料に通して内部の微細構造を見るので薄い切片が要り、SEMは表面に電子を当てて表面の形を見ます。STEMは電子線を細く絞って走査するもので、原子スケールまで見える機種があります。FIB-SEMはイオンビームで削りながらSEMで撮り、重ねて3次元に組み直します。2つめは見るだけか成分まで調べるかで、EDXは元素が何かを、EELSは元素に加えて化学状態まで分かります。電子回折やEBSDは結晶の構造や方位を調べ、3Dトモグラフィは傾けながら撮って立体に組み直します。3つめは試料作製で、電子顕微鏡はここの手間がいちばん大きく、固定・脱水・包埋・薄切・染色・蒸着・FIB加工・イオンミリングのどこまでを頼めるかで手元の負担がまったく変わります。4つめは用途で、生物試料（細胞・組織・菌・ウイルス・含水物）と材料試料（金属・高分子・電池・半導体）では前処理も装置の使い方も別になります。
| 基本料金の起点 | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） 基本料金に含まれる最初の工程 |
|---|---|
| 方式と分析 | |
| 方式 TEMは内部、SEMは表面を見ます。同じ試料でも見えるものが違います | TEM（透過・内部構造）・STEM（走査透過・原子スケール） |
| あわせてできる分析 | EDX（元素分析）・電子回折 |
| クライオ | 記載なし |
| 装置 | JEM-F200（日本電子）。Cold-FE電子銃、加速電圧80 kV・200 kV |
| 分解能・倍率 | TEM分解能0.23 nm／STEM分解能0.16 nm（いずれも200 kV） |
| 方式の補足 | 形態観察、構造解析、組成分析、結晶構造の解析に対応する。電子回折図形とEDSの元素マッピングができる。大気に触れさせない（大気非暴露）取り扱いにも対応する |
| 用途と試料作製 | |
| 用途 生物試料と材料試料では、前処理も装置の使い方も別になります | 材料試料（金属・高分子・電池・半導体） |
| 頼める試料作製 | 記載なし |
| 試料作製込み | 記載なし |
| 試料の補足 | 無機材料、易酸化材料、金属、ガラス、セラミックス、触媒、ジルコニア、ゼオライト、GaN、ポリマー、電池材料 |
| 解析と納品 | |
| 画像からの数値化 | 記載なし |
| 納品されるもの | 撮影画像・元素マップ・分析データ |
| 納期 | 記載なし |
| 実施する場所 | 国内 |
| 受注の条件・補足 | 試料作製の方法、納期、価格はこのページに記載がない |
| 料金の補足 | 公開価格なし |
出典
料金・仕様の根拠となる公開情報です。
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確認日 2026-10-05
実施機関の自社ページ。調査票にはなかったが、仕様が細かく公開されているため足した
