JFEテクノリサーチ： FIB-SEMによる3次元構造解析（デュアルビーム走査電子顕微鏡）
JFEテクノリサーチが提供するサービスです。
ご注文の前に「掲載情報」「料金詳細」「発注条件」などを確認のうえ、
内容に応じて見積依頼をしてください。
このサービスについて
集束イオンビームで削りながらSEMで撮影し、数百枚のSEM像を専用ソフトウェアで立体的に再構築して3次元の構造解析を行う。表面の観察では得られない表面積などの数値も算出できる。ページに挙がっている対象は、3次元構造のデバイス、結晶粒界相、薄膜・表面処理、セラミックスや金属の複数相分布、ボイド・空隙・ポアなど。
参考合計 （1試料）
公開されている料金をもとに計算した参考金額です。
登録されている料金（すべて）
基本料金・オプション・適用条件などの一覧です。
| 区分 | 内容 | 金額 | 撮影する試料数の条件 | 税 | 種類・期間 | 出典 | メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 基本料金 （必須） | FIB-SEMによる3次元構造解析（1試料） | 要見積 | — | 記載なし | 通常 | デュアルビーム走査電子顕微鏡（FIB搭載SEM）（JFEテクノリサーチ） （公式） | 公開価格なし |
仕様
掲載されている解析条件・サービス仕様です。
電子顕微鏡で試料の形や内部構造、元素の分布を見てもらう受託です。タンパク質の立体構造を決めるクライオ電子顕微鏡とは目的が違います。まず方式で、見ているものが根本的に違います。TEMは電子を試料に通して内部の微細構造を見るので薄い切片が要り、SEMは表面に電子を当てて表面の形を見ます。STEMは電子線を細く絞って走査するもので、原子スケールまで見える機種があります。FIB-SEMはイオンビームで削りながらSEMで撮り、重ねて3次元に組み直します。2つめは見るだけか成分まで調べるかで、EDXは元素が何かを、EELSは元素に加えて化学状態まで分かります。電子回折やEBSDは結晶の構造や方位を調べ、3Dトモグラフィは傾けながら撮って立体に組み直します。3つめは試料作製で、電子顕微鏡はここの手間がいちばん大きく、固定・脱水・包埋・薄切・染色・蒸着・FIB加工・イオンミリングのどこまでを頼めるかで手元の負担がまったく変わります。4つめは用途で、生物試料（細胞・組織・菌・ウイルス・含水物）と材料試料（金属・高分子・電池・半導体）では前処理も装置の使い方も別になります。
| 基本料金の起点 | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） 基本料金に含まれる最初の工程 |
|---|---|
| 方式と分析 | |
| 方式 TEMは内部、SEMは表面を見ます。同じ試料でも見えるものが違います | FIB-SEM（削りながら撮って3次元に）・SEM（走査・表面） |
| あわせてできる分析 | 3次元の再構築 |
| クライオ | 記載なし |
| 装置 | デュアルビーム走査電子顕微鏡（FIB搭載SEM） |
| 分解能・倍率 | 記載なし |
| 方式の補足 | FIB加工とSEM観察を連続して行い、数百枚のSEM像を専用ソフトウェアで立体的に再構築する |
| 用途と試料作製 | |
| 用途 生物試料と材料試料では、前処理も装置の使い方も別になります | 材料試料（金属・高分子・電池・半導体） |
| 頼める試料作製 | FIB加工 |
| 試料作製込み | 試料作製から一括で頼める |
| 試料の補足 | 3次元構造のデバイス、結晶粒界相、薄膜・表面処理、セラミックス・金属の複数相分布、ボイド・空隙・ポアなど |
| 解析と納品 | |
| 画像からの数値化 | 表面積・3次元の体積・形状 |
| 納品されるもの | 撮影画像・解析レポート |
| 納期 | 記載なし |
| 実施する場所 | 国内 |
| 受注の条件・補足 | 表面の観察では得られない表面積などの算出ができる。納期・価格はこのページに記載がない |
| 料金の補足 | 公開価格なし |
出典
料金・仕様の根拠となる公開情報です。
-
確認日 2026-10-05
実施機関の自社ページ
