JFEテクノリサーチ： 形態観察（TEM・STEM・SEM／EDX・EELS・EBSD）
JFEテクノリサーチが提供するサービスです。
ご注文の前に「掲載情報」「料金詳細」「発注条件」などを確認のうえ、
内容に応じて見積依頼をしてください。
このサービスについて
TEM、Cs補正STEM、SEMで形態を観察し、EDXで元素分析、EELSで元素と化学状態の分析、EBSDで結晶方位の解析まで行う。極低加速電圧のULV-SEMは最小20 Vで観察でき、数ナノメートルの極表面が見える。SEMでは表面の3次元形状計測もできる。FIBによる試料作製と、低温での観察・非暴露条件での試料調整・加工にも対応する。
参考合計 （1試料）
公開されている料金をもとに計算した参考金額です。
登録されている料金（すべて）
基本料金・オプション・適用条件などの一覧です。
| 区分 | 内容 | 金額 | 撮影する試料数の条件 | 税 | 種類・期間 | 出典 | メモ |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 基本料金 （必須） | 形態観察（1試料） | 要見積 | — | 記載なし | 通常 | 形態観察 - 表面形態・構造観察（JFEテクノリサーチ） （公式） | 公開価格なし |
仕様
掲載されている解析条件・サービス仕様です。
電子顕微鏡で試料の形や内部構造、元素の分布を見てもらう受託です。タンパク質の立体構造を決めるクライオ電子顕微鏡とは目的が違います。まず方式で、見ているものが根本的に違います。TEMは電子を試料に通して内部の微細構造を見るので薄い切片が要り、SEMは表面に電子を当てて表面の形を見ます。STEMは電子線を細く絞って走査するもので、原子スケールまで見える機種があります。FIB-SEMはイオンビームで削りながらSEMで撮り、重ねて3次元に組み直します。2つめは見るだけか成分まで調べるかで、EDXは元素が何かを、EELSは元素に加えて化学状態まで分かります。電子回折やEBSDは結晶の構造や方位を調べ、3Dトモグラフィは傾けながら撮って立体に組み直します。3つめは試料作製で、電子顕微鏡はここの手間がいちばん大きく、固定・脱水・包埋・薄切・染色・蒸着・FIB加工・イオンミリングのどこまでを頼めるかで手元の負担がまったく変わります。4つめは用途で、生物試料（細胞・組織・菌・ウイルス・含水物）と材料試料（金属・高分子・電池・半導体）では前処理も装置の使い方も別になります。
| 基本料金の起点 | 試料そのものを送る（試料作製から頼む） 基本料金に含まれる最初の工程 |
|---|---|
| 方式と分析 | |
| 方式 TEMは内部、SEMは表面を見ます。同じ試料でも見えるものが違います | TEM（透過・内部構造）・STEM（走査透過・原子スケール）・SEM（走査・表面） |
| あわせてできる分析 | EDX（元素分析）・EELS（元素＋化学状態）・EBSD（結晶方位） |
| クライオ | 低温に保ったまま観察・加工できる |
| 装置 | TEM、Cs補正STEM、SEM、ULV-SEM（極低加速電圧走査電子顕微鏡） |
| 分解能・倍率 | ULV-SEMは最小20 Vの加速電圧で観察でき、数ナノメートルの極表面が見える。Cs補正STEMは原子スケールの微細構造観察に対応する |
| 方式の補足 | SEMでは表面の3次元形状計測ができる。EDXで観察位置の元素分析、EELSで元素分析と化学状態分析、EBSD（後方散乱電子回折像）で結晶構造の解析ができる。低温での観察と、非暴露条件での試料調整・加工にも対応する |
| 用途と試料作製 | |
| 用途 生物試料と材料試料では、前処理も装置の使い方も別になります | 材料試料（金属・高分子・電池・半導体） |
| 頼める試料作製 | FIB加工 |
| 試料作製込み | 試料作製から一括で頼める |
| 試料の補足 | 記載なし |
| 解析と納品 | |
| 画像からの数値化 | 記載なし |
| 納品されるもの | 撮影画像・元素マップ・分析データ・解析レポート |
| 納期 | 記載なし |
| 実施する場所 | 国内 |
| 受注の条件・補足 | 3次元の再構築は、同社のFIB-SEM（デュアルビーム走査電子顕微鏡）の別メニューになる。対象試料・納期・価格はこのページに記載がない |
| 料金の補足 | 公開価格なし |
出典
料金・仕様の根拠となる公開情報です。
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確認日 2026-10-05
実施機関の自社ページ。調査票が○にしていた3Dトモグラフィと電子回折は、このページには記載がない
